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X荧光镀层测厚仪
发布日期:08-08-05
 

应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的

情况下进行表面镀层厚度的测量  ,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

行业

用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。

主要规格               规格描述

 X射线激发系统        垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,Be

                       标准靶材:Rh靶;任选靶材:WMoAg

                       功率:50W(4-50kV0-1.0mA)-标准

                             75W(4-50kV0-1.5mA)-任选

                             装备有安全防射线光闸

                             二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

 准直器程控交换系统    最多可同时装配6种规格的准直器

                       多种规格尺寸准直器任选:

                       -圆形,如4681220 mil

                       -矩形,如1x22x20.5x101x102x104x16

测量斑点尺寸          12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

                      12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

 样品室              

-样品室结构                开槽式样品室

-最大样品台尺寸            610mm x 610mm

XY轴程控移动范围         标准:152.4 x 177.8mm还有5种规格任选

Z轴程控移动高度          43.18mm

XYZ三轴控制方式         多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

 -样品观察系统             高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。

                            50倍和100倍观察系统任选。)激光自动对焦功能

                             可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

样品种类:                   镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

                             可检测元素范围:Ti22 U92。可同时测定5/15种元素/共存元素校正

                             贵金属检测,如Au karat评价

                             材料和合金元素分析,材料鉴别和分类检测

                             液体样品分析,如镀液中的金属元素含量

                             多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析

-调整和校正功能             系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移

-测量自动化功能             鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式,测量位置预览功能,激光对焦和自动对焦功能

-样品台程控功能             设定测量点,连续多点测量,测量位置预览

-统计计算功能               平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CPCPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能

-系统安全监测功能           Z轴保护传感器,样品室门开闭传感器

●精度高、稳定性好

●强大的数据统计、处理功能

●测量范围宽

NIST认证的标准片

●全球服务及支持

 
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