QuaNix4200薄膜测厚仪（涂镀层测厚仪）
一品科技涂镀层测厚仪：颜小云-153 2290 4332 0769-2338 1495
（一)QuaNix4200薄膜测厚仪技术特点：
***零位稳定：
所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移。
***确保准确测量
QuaNix4200德国尼克斯涂镀层测厚仪无需校准：多数测厚仪除了校零外，还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度，要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐，而且也会因标准片表面粗糙失效，增大系统误差。
***温度补偿：
涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。
***红宝石探头：
探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。
***独特的直流采样技术：
使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高。
（二）详细描述（技术参数表）：
QuaNix4200涂镀层测厚仪可测量钢铁等磁性金属基体上的非磁性涂层、镀层、氧化层，如油漆、粉末、塑料、橡胶、锌、铬、铝、锡等；
钢铁基材: 用于QUANIX4200涂镀层测厚仪型
测量范围: 0-3000um
测量精度:0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100.
最小测量面积: 10x10mm
最小曲率: 凸半径 5mm凹半径 25mm
最小基材厚度:0.2mm
温度范围: 0-60度
显示: LCD
供电形式: 2个1.5V电池
体积: 100X60X27mm
重量: 约110克
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