可控硅模块老化测试夹具

可控硅模块老化测试夹具

价　格：98.00 元

产　地：扬州

厂　家：扬州市广陵区鸿腾电器厂

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成交量：0

发布日期：2013/5/8 10:45:07

详细信息

可控硅模块老化测试夹具

该系列夹具适用于GD200HFL60C2S型半导体模块的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯.

产品规格型号：GD200HFL60C2S

主要技术指标；
适应环境温度；-55℃—+155℃ 工作电压；DC1200V 探针金层厚度；4umAu:lu(镍金）

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